ICS 81.040.10 Q 37 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 32561.32016 红外光学硫系玻璃测试方法 第3部分：杂质 Measuring method for chalcogenide infrared optical glass- Part 3 :Impurity 2016-02-24发布 2016-10-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 32561.3—2016 前言 GB/T32561《红外光学硫系玻璃测试方法》分为三个部分： 第1部分：均勾性； —第2部分：条纹度； 第3部分：杂质。 本部分为GB/T32561的第3部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分由中国兵器工业集团公司提出并归口。 本部分起草单位：湖北新华光信息材料有限公司、中国兵器工业标准化研究所。 本部分主要起草人：胡向平、麦绿波、徐光以、刘向东、杨金侠、唐雪琼、梁立新、徐华峰。 GB/T32561.3—2016 红外光学硫系玻璃测试方法 第3部分：杂质 1范围 GB/T32561的本部分规定了红外光学硫系玻璃杂质测试原理及仪器和设备、测试条件、试样、测 试程序、数据处理和测试报告。 本部分适用于红外光学硫系玻璃杂质的检测，也适用于其他红外光学玻璃、红外晶体、红外陶瓷等 红外光学材料杂质的检测。 2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 2.1 杂质impurity 玻璃内部引起原透射光线发生变化的夹杂物（如晶粒、气泡、节瘤及结石）。 [MIL-STD-1241A：1987第3章;ISO10110-3:1996,定义2.2] 3测试原理 采用均匀的漫射红外光照射试样，通过红外成像系统采集试样中的杂质图像，观察计算机显示屏上 杂质形成的灰斑和亮点。红外光学硫系玻璃杂质测试原理如图1。 2 3 说明： 1 光源； 6. 图像传感器； 2 漫射器； 7 计算机图像采集处理与显示系统； 3 试样； 8 载物台； 4 变焦镜头； A、B 杂质； 5 滤光片； A'、B 杂质像。 图1红外光学硫系玻璃杂质测试原理图 GB/T32561.3—2016 4仪器和设备 4.1组成 杂质测试设备由光源、漫射器、载物台、成像系统（见图1虚线区域）及计算机图像采集处理与显示 系统组成，按图1组装。 4.2 2光源 采用几何形状合适的红外光源，光源的辐射光谱应在试样的透射光谱区域内。光源强度和均匀性 应满足图像传感器响应要求 4.3漫射器 漫射器为表面精磨的一层或多层透红外的毛玻璃板。其透光不均勾性应小于1%。 4.4成像系统 4.4.1滤光片 选择能够截止0.78μm以下波长的滤光片。 4.4.2图像传感器 选择能够响应透过测试材料红外辐射的传感器。图像传感器的空间分辨率应不大于0.1mm。同 时成像系统的景深应大于试样厚度，图像传感器像元大小与成像系统的F数相匹配。 4.4.3计算机图像采集处理与显示系统 计算机图像采集处理与显示系统应满足以下要求： a）应能将图像传感器输出信号转换成数字信号； b）显示系统包括显示器和校准后的电子尺，其中显示器应与图像传感器匹配，其对比度应不低于 1000：1,分辨率应不低于1280×1024； 校准后的电子尺的测量不确定度应不大于0.02mm。 c) 5 测试条件 5.1 环境温度 环境温度应在22℃土5℃的范围内。 5.2 空气相对湿度 空气相对湿度应不大于70% 6试样 6.1试样厚度应不大于成像系统的景深，一般不大于15mm。 6.2试样两通光面应抛光，要求如下： a）试样通光面粗糙度Ra应不大于0.008μm； 2