ICS31-030
L90
中华人民共和国国家标准
GB/T5594.3—2015
代替GB/T5594.3—1985
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第3部分:平均线膨胀系数测试方法
Testmethodsforpropertiesofstructureceramic
usedinelectroniccomponentsanddevice—
Part3:Testmethodformeancoefficientoflinearexpansion
2015-05-15发布 2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前 言
GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下:
———气密性测试方法(GB/T5594.1);
———杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2);
———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);
———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);
———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);
———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);
———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);
———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);
———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。
本部分为GB/T5594的第3部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T5594.3—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试
方法》。
本部分与GB/T5594.3—1985相比,主要有下列变化:
———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方
法”;
———4.1测试样品改为ϕ3.5×50mm;
———4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;
———4.4测量范围从室温至800℃变化为室温至1200℃;
———4.5线膨胀系数单位改为K-1。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特
种陶瓷厂。
本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5594.3—1985。
ⅠGB/T5594.3—2015
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第3部分:平均线膨胀系数测试方法
1 范围
GB/T5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告
格式。
本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T5593—2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T9530—1988 电子陶瓷名词术语
3 术语和定义
GB/T9530—1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
线膨胀系数 coefficientoflinearexpansion
在一定温度范围内,温度变化1K试样线性尺寸的相对变化值。常用式(1)表示:
α=lt-l0
l0(t-t0)…………………………(1)
式中:
α———线膨胀系数;
l0———最初温度t0时试样的长度,单位为毫米(mm);
lt———加热温度至t时试样的长度,单位为毫米(mm)。
4 测试方法
4.1 样品应符合GB/T5593—2015中表2的要求并用精确度为0.02mm的卡尺测量试样长度L0。
4.2 试样装入石英玻璃或高温Al2O3陶瓷套管中,应保持平直和稳定,并和石英玻璃或高温Al2O3陶
瓷传递杆接触良好。用10倍放大镜观察,不应有可见裂纹和气孔。
4.3 接通电源,加热并均匀升温。试样升温速度不大于5℃/min。
4.4 记录各点温度和伸长值ΔL,直至测试到所需温度为止(测量范围可从室温至1200℃)。
4.5 根据仪器类型不同,测试结果可直接在计算机屏上显示,或按式(2)计算α值。
α=ΔL
M×L0×ΔT+α介质 …………………………(2)
1GB/T5594.3—2015
式中:
α ———平均线膨胀系数,单位为每开尔文(K-1);
ΔL———室温至所测温度测得试样被放大M倍的伸长量,单位为毫米(mm);
M———测量系统的放大倍数;
L0———试样在室温下的长度,单位为毫米(mm);
ΔT———室温至所测温度的温度差,单位为开尔文(K);
α介质———石英玻璃或陶瓷传递杆的平均线膨胀系数,如无标样数据,可自行测定。
5 结果评定
平均线膨胀系数以10-6K-1数量级表示,报告数据准确到小数点后两位。试样平行误差不大于
0.1×10-6K-1,最后结果为两个试样的平均值。
6 报告
平均线膨胀系数技术指标的测试报告应包括以下内容:
a) 受检单位名称;
b)送样日期;
c)送样者;
d)测试样品编号;
e)使用的仪器,操作者,测试日期;
f)检测项目和检测结果。
2GB/T5594.3—2015
GB-T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分 平均线膨胀系数测试方法
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